[发明专利]点云间隙与断差量测系统及方法在审

专利信息
申请号: 201210079307.6 申请日: 2012-03-23
公开(公告)号: CN103322931A 公开(公告)日: 2013-09-25
发明(设计)人: 张旨光;吴新元;刘义 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14;G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种点云间隙与断差量测系统计方法,该方法包括:过滤待测零件初始点云中的杂点,并从过滤后的点云中选择第一组点群和第二组点群,将其重新组合成一个新点云;从该新点云中选择需要拟合的点,对所选择的点进行拟合得到一个拟合图形;根据该拟合图形生成一个基准图形;从所述第一组点群和第二组点群中选择曲率最大的第一选取点和第二选取点;计算待测零件点云的间隙值和断差值并将其输出到显示设备上。利用本发明可以自动自动过滤待测零件点云中的杂点,再自动确定一个基准图形并从过滤后的点云中选取特定的量测点。
搜索关键词: 间隙 断差量测 系统 方法
【主权项】:
一种点云间隙与断差量测系统,其特征在于,该系统包括:点云获取模块,用于从计算装置的存储器中获取待测零件的初始点云;点云过滤模块,用于根据预设的间距范围过滤初始点云中的杂点,并从过滤后的点云中选择第一组点群和第二组点群,将该第一组点群和第二组点群重新组合成一个新点云;基准图形获取模块,用于根据该新点云的分布规律,从该新点云中选择需要拟合的点,对所选择的点进行拟合得到一个拟合图形;所述基准图形获取模块,还用于根据该拟合图形生成一个基准图形;量测点选取模块,用于从所述第一组点群中选择曲率最大的第一选取点,从所述第二组点群中选择曲率最大的第二选取点;计算模块,用于根据该第一选取点、第二选取点及基准图形,计算待测零件点云的间隙值和断差值;及结果输出模块,用于将该间隙值和断差值输出到该计算装置的显示设备上。
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