[发明专利]一种LED光源加速寿命测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种LED光源寿命加速测试系统及方法，其中该系统包括样品分组装置、第一结温测试装置、加温装置、第二结温测试装置、寿命测算装置和加温测试装置。本发明在保持驱动电源失效机理不变的条件下，通过提高其工作温度应力的方法来加速失效发现其潜在的缺陷，并根据阿氏加速理论中的加速寿命试验模型及引入置信度推断出其在正常温度应力水平下寿命，比传统的设计和试验以快得多的速度使产品达到在设计和工艺上成熟，从而缩短研制过程总时间，得以早日投放市场，抢占市场份额，产品设计和工艺成熟快，产品研制和生产成本更低。

主权项

一种LED光源加速寿命测试系统，其特征在于，包括：样品分组装置，用于将N个样品等分为多个组，并将所述多个组中的一组设为常规组，其余组设为对照组；第一结温测试装置，用于测试所述常规组样品在常温下的结温；加温装置，用于给各所述对照组样品加温；第二结温测试装置，用于测试各所述对照组样品在加温状态下的结温；寿命测算装置，用于计算置信度、以及各所述对照组样品分别在加温状态下的LED寿命；加温测试装置，基于所述测算装置计算出的置信度和各所述对照组样品在加温状态下的LED寿命，获得所述LED光源在常温下的寿命。