[发明专利]微小粒子分析装置及微小粒子分析方法有效
| 申请号： | 201210081015.6 | 申请日： | 2012-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN102735656A | 公开（公告）日： | 2012-10-17 |
| 发明（设计）人： | 棚濑广宣;外石满 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种微小粒子分析装置及微小粒子分析方法，该微小粒子分析装置包括：被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子的光照射单元，以及被构造为检测由被激光束照射的微小粒子发出的光的检测单元。在该微小粒子分析装置中，光照射单元至少包括由半导体激光器构成的光源，将由光源产生的激光束的光束形状转变成顶帽型光束形状的光纤，以及被构造为向光源提供驱动电流的光源驱动控制单元，该驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。 | ||
| 搜索关键词： | 微小 粒子 分析 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种微小粒子分析装置，包括：光照射单元，被构造为利用激光束照射在流路中流动的微小粒子；以及检测单元，被构造为检测由被所述激光束照射的所述微小粒子发出的光；其中，所述光照射单元至少包括：光源，由半导体激光器构成，光纤，将由所述光源产生的所述激光束的光束形状转变为顶帽型光束形状，以及光源驱动控制单元，被构造为向所述光源提供驱动电流，所述驱动电流通过将高频电流叠加到直流上来获得。
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