[发明专利]一种高精度光谱仪多波长校准系统无效
| 申请号： | 201210085078.9 | 申请日： | 2012-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN102538967A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 陈志超;刘宏欣;刘华;袁海骥 | 申请（专利权）人： | 科纳技术(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州市工业园*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种采用多波长标定元件的光谱吸收位置作为参考，对光谱仪进行多个波长校准的系统，具有成本低、校准方法简单、校准速度较快以及校准精度高等优点，适用于大型企业对生产线上批量光谱仪器设备的校准。该发明的使用能够克服现有汞灯特征谱线或者激光器校准方法只能校准一到二个波长位置的偏差，或者校准波长的整体平移，对于每个波长点偏差不一致的光谱仪校准效果很差的缺点，大幅度提高通信、仪器等产业测试和校准光谱仪的速度，对依靠光谱仪生产的产品质量及可靠性也有很大的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 光谱仪 波长 校准 系统 | ||
【主权项】：
一种高精度光谱仪多波长校准系统，其特征在于：包括校准程序、宽谱光源(如ASE光源)、多波长标定元件(如Gas Cell或者Comb Filter)以及元件中相互连接的光纤，其中所述的宽谱光源发出的宽谱光通过多波长标定元件，在光谱上形成特定的峰谷分布，用于计算光谱仪测试的偏差值，从而建立数学模型得到连续偏差值作为光谱仪的补偿数据，对光谱仪测试得到的结果进行修正。
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