[发明专利]一种晶硅抛光片表面缺陷检测系统有效
| 申请号： | 201210086505.5 | 申请日： | 2012-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN102621152A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 潘国兵;张洪涛;蒋建东 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/95 |
| 代理公司： | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人： | 王兵;黄美娟 |
| 地址： | 310014 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 晶硅抛光片表面缺陷检测系统，包括激光模块、光学扫描模块、图形检测模块、晶硅抛光片运动模块以及显示控制模块，所述激光模块与所述光学扫描模块相连接，所述光学扫描模块固定于待检测晶硅抛光片的上方一侧，所述图形检测模块以π/2弧度固定于待检测晶硅抛光片上方相对于所述的光学扫描模块的另一侧，并与所述显示控制模块相连接；所述晶硅抛光片运动模块与所述显示控制模块相连接。本发明利用激光相干性、方向集中和高分辨率的特性，结合光机电一体化以及图像算法的方法进行晶硅抛光片表面质量的检测，可实现晶硅抛光片表面细小裂纹、细小颗粒、沾污、凸凹等缺陷的检测，为集成电路与太阳能光伏电池的生产提供可靠的质量检测保证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 抛光 表面 缺陷 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种晶硅抛光片表面缺陷检测系统，其特征在于：包括激光模块、光学扫描模块、图形检测模块、晶硅抛光片运动模块以及显示控制模块，所述的激光模块与光学扫描模块连接，所述的光学扫描模块固定于待检测晶硅抛光片的上方的一侧，所述的图形检测模块以π/2弧度固定于待检测晶硅抛光片的上方的相对于所述的光学扫描模块的另一侧，并与所述的显示控制模块相连接；所述的晶硅抛光片运动模块与显示控制模块连接。
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