[发明专利]一种基于光单边带调制的光器件测量方法、测量装置

摘要

本发明公开了一种基于光单边带调制的光器件测量方法。本发明用两个并联的可调谐窄线宽激光器替换原测量装置中单个输出波长固定的窄线宽激光器，并利用控制两激光器交替工作的方法将光单边带测量技术的测量范围从原来的0.4nm拓展到40nm以上，从而实现了光器件在某一波段内任意波长响应的测试。本发明还公开了一种基于光单边带调制的光器件测量装置以及该装置的使用方法。相比现有的光单边带测量技术，本发明极大地拓展了测量装置的测量范围。

主权项

一种基于光单边带调制的光器件测量方法，利用光单边带调制器将微波扫频信号调制到光载波上，生成光单边带扫频信号；使光单边带扫频信号通过待测光器件，然后通过光电转换将其转换为电信号；结合所述微波扫频信号的幅度相位，提取所述电信号的幅度相位信息，获得待测光器件的传输函数；其特征在于，所述光载波为利用两个可调谐窄线宽激光器交替输出的多个连续频带光载波的组合；所述待测光器件的传输函数为根据所述各频带的传输函数处理得到的宽带传输函数。