[发明专利]光学系统和具有该光学系统的光学设备有效

专利信息
申请号: 201210088502.5 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN102736231A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 江口薫;日浅法人 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G02B15/177 分类号: G02B15/177
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 欧阳帆
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及光学系统和具有该光学系统的光学设备。该光学系统包括:布置为比孔径部分更接近于物侧的至少一个具有负折光力的透镜单元。具有负折光力的透镜单元包括至少一个正透镜和一个负透镜。包括在具有负折光力的透镜单元内的正透镜和负透镜的数量之间的比例被适当地设定。具有负折光力的透镜单元包括多个负透镜以及具有适当的阿贝数的正透镜,所述多个负透镜中的每个负透镜具有适当的阿贝数和部分色散比。在负透镜之中具有最高色散的负透镜位于适当的位置。
搜索关键词: 光学系统 具有 光学 设备
【主权项】:
一种包括透镜单元GLN的光学系统,所述透镜单元GLN包括被布置为比孔径部分SP更接近于物侧的至少一个具有负折光力的透镜单元,其中,当透镜单元GLN中包括的负透镜的材料的部分色散比差和阿贝数分别由ΔθLN和νLN表示时,满足以下的条件式的负透镜由负透镜LNlow表示:0.006<ΔθLN  以及60<νLN,负透镜LNlow的数量由SUM(LNlow)表示,满足以下的条件式的负透镜由负透镜LNhigh表示:0.006<ΔθLN  以及νLN<25,负透镜LNhigh的数量由SUM(LNhigh)表示,透镜单元GLN中包括的透镜的数量由SUM(L)表示,透镜单元GLN中包括的负透镜的数量由SUM(LN)表示,透镜单元GLN中包括的负透镜的材料的部分色散比差的和由SUM(ΔθLN)表示,在透镜单元GLN中包括的负透镜之中具有最小阿贝数的负透镜由负透镜LNmin表示,所述负透镜LNmin的阿贝数由νLNmin表示,在透镜单元GLN中包括的负透镜之中具有最大阿贝数的负透镜由负透镜LNmax表示,所述负透镜LNmax的阿贝数由νLNmax表示,在负透镜LNhigh的物侧表面顶点与孔径部分SP之间的距离由dNS表示,并且在最物侧的透镜表面顶点与孔径部分SP之间的距离由d1S表示,满足以下的条件式:0.60<SUM(LN)/SUM(L)<1.00,0.70<(SUM(LNlow)+SUM(LNhigh))/SUM(LN),3.50<νLNmax/νLNmin<6.50,0.30<dNS/d1S≤1.00,以及0.065<SUM(ΔθLN)<0.250,并且其中,当所述光学系统是变焦透镜时,孔径部分SP的位置是在所述变焦透镜处于广角端时定义的位置。
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