[发明专利]薄膜形成装置的清洗方法、薄膜形成方法及薄膜形成装置无效

专利信息
申请号: 201210088598.5 申请日: 2012-03-29
公开(公告)号: CN102732855A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 冈田充弘;东条行雄;多胡研治;西村和晃 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种薄膜形成装置的清洗方法、薄膜形成方法和薄膜形成装置,该薄膜形成装置的清洗方法用于在向薄膜形成装置的反应室内供给处理气体而在被处理体上形成薄膜后去除被附着在装置内部的附着物,其中,该薄膜形成装置的清洗方法具有清洗工序,在该清洗工序中,通过向被加热至规定的温度的反应室内供给含有氟素气体、氟化氢气体、氯气的清洁气体,去除上述附着物来清洗薄膜形成装置的内部。
搜索关键词: 薄膜 形成 装置 清洗 方法
【主权项】:
一种薄膜形成装置的清洗方法,该清洗方法用于在向薄膜形成装置的反应室内供给处理气体而在被处理体上形成薄膜后去除已附着在装置内部的附着物,其中,该薄膜形成装置的清洗方法具有清洗工序,在清洗工序中,通过向被加热至规定的温度的反应室内供给含有氟素气体、氟化氢气体、氯气的清洁气体,去除上述附着物来清洗薄膜形成装置的内部。
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