[发明专利]一种测量固体壁面波动液膜层平均厚度的方法有效
| 申请号： | 201210090079.2 | 申请日： | 2012-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN102607436A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | 陶毓伽;侯燕;淮秀兰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院工程热物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 周长兴 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法：a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数a1；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；e)液膜层平均厚度为a1与Nh的比值。本发明可广泛用于各种液滴碰撞固体壁面过程的可视化观测和壁面液膜层平均厚度的定量测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 固体 波动 液膜层 平均 厚度 方法 | ||
【主权项】：
一种测量固体壁面上波动液膜层平均厚度的方法，其步骤如下：a)采用放大摄影系统对液滴产生、开始撞击固体壁面、壁面上液膜厚度增加直到液膜厚度达到动态稳定的整个过程进行可视化拍摄；b)定位液膜厚度在原始图片高度方向上的像素范围，对选定范围内的各像素点逐一读取，得到灰度级矩阵；计算灰度级矩阵中各列上不同行间的灰度级梯度，得到各列中灰度级骤然增加的像素点，该些像素点组成的曲线是液膜表面所对应的位置；c)采用统计方法得到液膜表面以下区域的像素点总个数a1；d)计算固体壁面Y方向的像素点个数Nh；e)液膜层平均厚度为a1与Nh的比值。
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