[发明专利]基于平面度测量的平面刮研方法

摘要

本发明公开了一种基于平面度测量的平面刮研方法，该方法中先采集待刮研面上的多个点，并采用能够进行数据处理和拟合的可视化软件计算待刮研面的平面度，再根据待刮研面的平面度要求判定是否需要进行刮研，若需要刮研，则根据待刮研面上的多个点拟合出待刮研面和待刮研面的基准面的图形，并输出待刮研面上高于上述基准面的需刮研区域，操作人员根据该输出的需刮研区域再采用刮研用平板对其进行刮研。这样只需要对待刮研面上高于基准面的部分进行刮研，即大部分区域均不需要进行刮研，节省了刮研的时间，提高了刮研的针对性，同时提高了刮研的效率，还降低了对刮研操作人员熟练度的要求。

主权项

一种基于平面度测量的平面刮研方法，其特征在于：所述刮研方法包括以下步骤：（1）获取待刮研面的多个点的坐标，并将所述多个点的横坐标和纵坐标分别记录在矩阵A、矩阵B中；（2）在能够对所述矩阵A、矩阵B进行数据处理并能够进行数据拟合的可视化软件中输入矩阵A、矩阵B,并对矩阵A、矩阵B进行归一化处理；（3）拟合所述待刮研面的基准面，并计算所述待刮研面的平面度；（4）判断所述待刮研面的平面度是否满足要求，若满足，刮研结束，若不满足，则继续下述步骤：（a）拟合所述待刮研面，并输出所述待刮研面和所述待刮研面的基准面的图形；（b）输出所述待刮研面上高于所述待刮研面的基准面的需刮研区域；（c）采用刮研用平板对所述需刮研区域进行刮研；（d）返回步骤（1）。