[发明专利]一种纯质碳化硅过滤膜层及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210093722.7 申请日: 2012-03-31
公开(公告)号: CN102659447A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 张劲松;田冲;曹小明;杨振明 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: C04B38/06 分类号: C04B38/06;C04B35/565;B01D71/02;B01D67/00
代理公司: 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 代理人: 张志伟
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于多孔陶瓷材料及其制备技术领域,具体为一种纯质碳化硅过滤膜层及其制备方法,该种纯质碳化硅过滤膜层具有高通孔隙率、低压降、强度高、抗热冲击性能好、使用温度高的特点,制备方法易于实现,能够保证产品性能。纯质碳化硅过滤膜层的组成为纯质SiC,表面膜层由细颗粒碳化硅堆积结合而成,孔径0.1~20μm,膜层孔隙率在25~50%之间。采用细碳化硅颗粒、硅粉、造孔剂添加剂及有机树脂配制膜层原料,采用喷涂或浸渍方法表面制备膜层,经干燥后,烧结得到纯质碳化硅膜层。本发明可在氧化气氛下使用,也可以在还原气氛下使用,耐酸、碱腐蚀性能强,可用于煤气化化工及IGCC、PFBC煤气化发电、高温烟气、汽车尾气、水净化等各种高、低温流体过滤净化。
搜索关键词: 一种 碳化硅 滤膜 及其 制备 方法
【主权项】:
一种纯质碳化硅过滤膜层,其特征在于:纯质碳化硅过滤膜层的组成为纯质SiC,表面膜层由细颗粒碳化硅堆积结合而成,孔径0.1~20μm,膜层孔隙率在25~50%之间。
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