[发明专利]随钻电磁波电阻率仪器双频介电常数校正方法有效

专利信息
申请号: 201210095139.X 申请日: 2012-03-31
公开(公告)号: CN102635348A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 宋殿光;段宝良;韩宏克;郭巍;方辉;魏少华;李郴 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十二研究所
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00;E21B49/00;G01V3/30
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 代理人: 白毅明
地址: 453003 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种随钻电磁波电阻率仪器双频介电常数校正方法。在计算随钻电磁波电阻率测井仪响应中,将电阻率和介电常数看成相互独立的两个变量,在电阻率均匀各向同性介质中计算不同频率、同一源距下随钻电磁波电阻率测井仪的相位差响应;计算响应时将介电常数和电阻率分别按从小到大的顺序进行变化,根据相位差响应值与介电常数和电阻率存在的一一对应关系,取两个频率的相位差响应值分别作为坐标系横坐标和纵坐标绘制插值图版,通过在图版中进行插值来获得一组对应的介电常数和电阻率值,或者在获得两个频率下的相位差响应值后,将每个介电常数和电阻率值下计算出的每个频率下的相位差响应值数据按对应关系建立数据库,选择两个频率的相位差响应值作为搜索条件输入到数据库中进行搜索,得到介电常数和电阻率值,实现介电常数的校正。
搜索关键词: 电磁波 电阻率 仪器 双频 介电常数 校正 方法
【主权项】:
一种随钻电磁波电阻率仪器双频介电常数校正方法,其特征是:1)在计算随钻电磁波电阻率测井仪响应中,将电阻率和介电常数看成相互独立的两个变量,2)在电阻率均匀各向同性介质中计算不同频率、同一源距下随钻电磁波电阻率测井仪的相位差响应;3)计算响应时将介电常数和电阻率分别按从小到大的顺序进行变化,介电常数的变化范围从1.0到300,电阻率的变化范围从0.1Ohmm到10000Ohmm,在源距相同的情况下,每个频率都会得出一系列相位差响应值,这一系列响应值与介电常数和电阻率存在着一一对应关系,即每一种介电常数和电阻率组合都会唯一的对应每个频率下的一个相位差响应值;4)根据相位差响应值与介电常数和电阻率存在的一一对应关系,取两个频率的相位差响应值分别作为坐标系横坐标和纵坐标的值,则每个介电常数和电阻率值都会在该坐标系中用唯一的一个点来确定,并绘制插值图版;5)通过在图版中进行插值来获得一组对应的介电常数和电阻率值,这时的电阻率值与介电常数值是相互独立的,实现了介电常数的校正。
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