[发明专利]太赫兹波探测装置有效

专利信息
申请号: 201210096036.5 申请日: 2012-04-01
公开(公告)号: CN103364417B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 鲁远甫;刘文权;冯广智;焦国华;吕建成;金雷 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02;G01N23/04
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 吴平
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种太赫兹波探测装置,包括放置待检测样品的样品台,置于第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜的公共焦点;太赫兹波辐射源,置于所述第一离轴椭圆面镜的另一个焦点上,用于发出太赫兹波;第一离轴椭圆面镜,用于将入射的太赫兹波聚焦到样品台;第二离轴椭圆面镜,所在椭圆的其中一个焦点与第一离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点重合,用于将所述聚焦的太赫兹波反射后汇聚到第二离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点。上述太赫兹波探测装置,利用从一个椭圆焦点发出的太赫兹波经椭圆面镜发射后汇聚在另一个椭圆焦点的原理,用两个椭圆面镜就完成了两次聚焦,使携带有待检测物品信息的太赫兹波汇聚到探测器上,简化了太赫兹波探测装置的结构。
搜索关键词: 赫兹 探测 装置
【主权项】:
一种太赫兹波探测装置,其特征在于,包括:第一离轴椭圆面镜,用于将从第一离轴椭圆面镜所在椭圆的其中一个焦点入射的太赫兹波聚焦到第一离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点;第二离轴椭圆面镜,所在椭圆的其中一个焦点与第一离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点重合,用于将所述聚焦的太赫兹波反射后汇聚到第二离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点;所述第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜的对应椭圆的长轴、短轴相等;所述第二离轴椭圆面镜上的中心在所述第一离轴椭圆面镜上的中心与公共焦点的延长线上,或所述第二离轴椭圆面镜的中心在所述第一离轴椭圆面镜的中心与所述公共焦点的连线在样品台上的反射线上;样品台,置于第一离轴椭圆面镜和第二离轴椭圆面镜所在椭圆的公共焦点上,用于放置待检测样品;太赫兹波辐射源,置于所述第一离轴椭圆面镜所在椭圆入射太赫兹波的焦点上,用于发出太赫兹波;探测单元,置于所述第二离轴椭圆面镜所在椭圆的另一个焦点上,根据第二离轴椭圆面镜聚焦的携带有待检测样品信息的太赫兹波得出所需待检测样品信息。
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