[发明专利]一种数字集成电路设计的验证方法

摘要

本发明公开了一种数字集成电路设计的验证方法，包括：按场景、子场景、流、模块对需求书或设计规格书进行提取整理，得到格式统一的结构化验证流，每一条结构化验证流包括场景信息、子场景信息、流信息、流起点和流终点；根据流起点和流终点及其映射关系，得到相对应的状态机；根据状态机并基于图论得到有限遍历集，有限遍历集为包含所述状态机的可能路径的集合，可能路径为结构化验证流的流起点至对应的流终点的路径，所有有限遍历集形成验证空间。本发明通过格式统一的结构化验证流使得验证信息的整理规范化，验证信息得到复用，且便于管理验证过程，为提高验证效率提供了可能性；同时，基于图论得到的有限遍历集保证了验证的覆盖率。

主权项

一种数字集成电路设计的验证方法，其特征在于包括：信息结构化步骤，按场景、子场景、流、模块对需求书或设计规格书进行提取整理，整理后得到格式统一的至少一条结构化验证流，每一条结构化验证流包括场景信息、子场景信息、流信息、至少一个流起点和至少一个流终点；状态机生成步骤，根据所述结构化验证流的流起点和流终点及其映射关系，得到与所述结构化验证流相对应的状态机；验证空间获取步骤，根据所述状态机并基于图论得到有限遍历集，所述有限遍历集为包含所述状态机的可能路径的集合，所述可能路径为所述结构化验证流的流起点至对应的流终点的路径，所有所述有限遍历集形成验证空间。