[发明专利]用于通过低频频谱确定样本特征的系统和方法无效

专利信息
申请号: 201210103025.5 申请日: 2003-03-28
公开(公告)号: CN102621343A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 约翰·T·巴特斯;贝内特·M·巴特斯;利萨·C·巴特斯 申请(专利权)人: 纳特维斯公司
主分类号: G01N37/00 分类号: G01N37/00
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 代理人: 邬玥;葛强
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 用于判断产生分子旋转的样本(200)的方法和装置。把样本放入具有磁屏蔽罩和电磁屏蔽罩的容器(50),向样本加入高斯噪声。检测到含有叠加了加入的高斯噪声的样本源辐射的电磁时域信号,将该信号与由同一样本产生的第二时域信号进行互相关运算,求出带有频域成分的互相关信号,用快速傅里叶变换“FFT”以产生一个频率范围在DC到50kHz范围的频域频谱来绘制该信号。根据该频谱,识别出所判断的样本的一或多个特征低频信号分量。
搜索关键词: 用于 通过 低频 频谱 确定 样本 特征 系统 方法
【主权项】:
一种用于判断样本的装置,包括用于在噪声存在下容纳该样本的容器,用于检测由叠加在该噪音上的样本源辐射组成的电磁时域信号的检测器,和电子计算机,其适于接收检测到的信号,并通过下列方式处理该信号:(i)根据该检测到的信号产生频域频谱,以及(ii)产生输出,该输出包括作为样本特征的频谱中的低频频谱成分相关的信息。
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