[发明专利]一种可拆式测试治具无效

专利信息
申请号: 201210104335.9 申请日: 2012-04-11
公开(公告)号: CN102621354A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 游森溢 申请(专利权)人: 游森溢
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02
代理公司: 东莞市创益专利事务所 44249 代理人: 李卫平
地址: 中国台湾桃园*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及测试设备技术领域,尤其是涉及测试设备上使用的一种可拆式测试治具,其包含:一多层植针面板,该多层植针面板内设有依电路之回路设计的测试点,并且在测试点植入探针,多层植针面板中至少有一层可活动紧迫固定探针;一支撑架,该支撑架用以连接多层植针面板及底座,并提供强固支撑力以承受测试机之下压力;一底座,该底座用以固定于测试机;以及一连接器组,连接器组用以连接测试机和可拆式测试治具之回路。根据本发明之可拆式测试治具,具有快速组装及拆卸后可重复使用之特点;当电子零件变动时,测试治具拆卸后90%以上之零件皆可重复使用,该可拆式测试治具可以测试印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等。
搜索关键词: 一种 可拆式 测试
【主权项】:
一种可拆式测试治具,其特征在于:该可拆式测试治具包含:一多层植针面板,该多层植针面板内设有依电路之回路设计的测试点,并且在测试点植入探针,多层植针面板中至少有一层可活动紧迫固定探针;一支撑架,该支撑架用以连接多层植针面板及底座,并提供强固支撑力以承受测试机之下压力;一底座,该底座用以固定于测试机;以及一连接器组,设计在底座上,连接器组用以连接测试机和可拆式测试治具之回路。
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