[发明专利]一种检测微透镜阵列焦距的方法无效

专利信息
申请号: 201210106803.6 申请日: 2012-04-12
公开(公告)号: CN102661849A 公开(公告)日: 2012-09-12
发明(设计)人: 朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 梁爱荣
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种检测微透镜阵列焦距的方法,首先在微透镜阵列的顶点附近采集第一组图像;然后在微透镜阵列焦点附近采集二组图像;利用数字图像清晰度函数分析,分别确定微透镜阵列的各个单元的顶点、焦点位置;计算得出两次定焦测量的位置差,即为微透镜阵列各个单元的焦距。相比较干涉仪测量法,本发明利用软件方面的图像分析计算代替硬件上的干涉仪定焦,测量成本更低,操作简便、易行,操作简便易行。同时,利用该方法一次采集图像可完成对多个阵列的测量,适合于阵列数较多的微透镜焦距测量。
搜索关键词: 一种 检测 透镜 阵列 焦距 方法
【主权项】:
一种检测微透镜阵列焦距的方法,利用由单色仪、平行光管、微透镜阵列、CCD探测器和光栅测微仪组成的检测系统,通过确定微透镜阵列的焦点和顶点位置,实现焦距测量的步骤如下:步骤1:将CCD探测器移动到微透镜阵列的顶点附近位置,以步距电机的步距为单位长度在顶点附近位置采集第一组图像,并将采集的第一组图像依次编号,计算采集的各个图像的清晰度函数值,利用Matlab软件绘制第一组图像的清晰度函数曲线并确定曲线的极大值位置即为微透镜阵列的各个子单元的顶点位置;步骤2:将CCD探测器移动到微透镜阵列的焦面附近位置,以步距电机的步距为单位长度在焦面附近位置采集第二组图像,并将采集的第二组图像依次编号,利用Matlab软件分析并确定微透镜阵列的各个子单元的焦点位置的图像;步骤3:用光栅测微仪分别对每组图像进行测量,获得每组图像中CCD探测器从微透镜阵列的顶点移动到焦点位置的距离时采集的第一帧图像;步骤4:计算微透镜阵列的各个子单元的焦距fef为:fef=(nid‑nij)×s+l式中,nid为在第i个子单元的顶点位置采集的图像编号i为微透镜阵列子单元的编号,nij为在微透镜阵列第i个子单元的焦面位置采集的图像编号,i为自然数,j表示焦面,d表示顶点,s为步进电机的步距,l为CCD探测器从被测微透镜阵列的顶点移动到焦点采集的两组图像的第一帧图像的距离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210106803.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top