[发明专利]定向垂距法测量变形监测定向水平位移的方法无效
申请号: | 201210107758.6 | 申请日: | 2012-04-13 |
公开(公告)号: | CN102620699A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 靳纪洲;靳德恩 | 申请(专利权)人: | 靳纪洲 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02 |
代理公司: | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人: | 张英荷 |
地址: | 730060 甘肃省兰州*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明提供了一种定向垂距法测量变形监测定向水平位移的方法。该方法按相关要求选定基准点、监测点,设立相应的固定测量标志;以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点,设立临时测量标志;测量、计算基准点坐标后,在基准点上设立测站,测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标,计算取中后展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图,并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置,逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距,再根据本次垂距减去上次垂距、本次垂距减去初始垂距计算本次位移值、累计位移值。本发明设站位置摆脱基准线在较大范围内选择,适应性强,测量成果相对准确,工作效率大幅提高。 | ||
搜索关键词: | 定向 垂距法 测量 变形 监测 水平 位移 方法 | ||
【主权项】:
1.一种定向垂距法测量变形监测定向水平位移的方法,包括以下步骤:(1)选点定位:按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》要求选定基准点、监测点,设立相应的固定测量标志;以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点,设立临时测量标志;(2)外业测量:按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》的要求测量、计算基准点的坐标,然后在基准点上设立测站,测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标;(3)内业计算、展绘坐标求垂距:内业将轮廓基本拐点坐标和监测点坐标计算取中后,展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图,并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置,按下列公式逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距:XA——轮廓基本直线AB一端点A的纵坐标YA——轮廓基本直线AB一端点A的横坐标XB——轮廓基本直线AB另一端点B的纵坐标YB——轮廓基本直线AB另一端点B的横坐标XC——监测点C的纵坐标YC——监测点C的横坐标D——监测点C到轮廓基本直线AB的垂直距离(4)计算位移值:本次位移值=本次垂距-上次垂距累计位移值=本次垂距-初始垂距变化速率=本次位移值/本次与上次测量间隔天数。
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