[发明专利]微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法

摘要

微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法，涉及一种数字输入输出端口的工作状态的检测方法，为了解决使用者不能准确确定是否是微处理器数字输入输出端口内工作开关损坏的问题。该方法是基于一种装置实现的；该装置包括M组检测装置，检测装置包括N沟道MOS管和发光二极管；发光二极管D接N沟道MOS管的漏极，N沟道MOS管的源极为检测装置的检测端口，开关S控制M组检测装置的工作状态；该方法：将待测数字输入输出端口与一个检测装置的检测端口连接；将待测数字输入输出端口设置为开漏输出方式；闭合开关S，根据发光二极管D的状态，判断相应的待测数字输入输出端口的工作状态。它用于检测微处理器数字输入输出端口的工作状态。

主权项

一种微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法，该方法是基于微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测装置实现的，所述微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测装置包括M组检测装置(1)、电阻R、直流电压源和开关S；检测装置(1)包括N沟道MOS管和发光二极管D；发光二极管D的阴极接检测装置(1)的供电电源的正极，发光二极管D的阳极接N沟道MOS管的漏极；M组检测装置(1)的N沟道MOS管的栅极同时接开关S的一端，开关S的另一端接电阻R的一端，电阻R的另一端接直流电压源的正极，直流电压源的负极接检测装置(1)的供电电源的负极，M组检测装置(1)的N沟道MOS管的源极为检测装置(1)的检测端口；基于上述装置的微处理器数字输入输出端口的工作状态的检测方法，其特征在于，它包括如下步骤：步骤一：将微处理器(2)的每一个待测数字输入输出端口与一个检测装置(1)的检测端口连接，检测装置(1)的供电电源的正极接微处理器(2)的供电电源正极，检测装置(1)的供电电源的负极接微处理器(2)的供电电源负极；步骤二：在微处理器(2)中，嵌入程序，将待测数字输入输出端口设置为开漏输出方式；步骤三：闭合开关S，观察每个检测装置(1)中发光二极管D的状态，判断待测数字输入输出端口的工作状态，若发光二极管D亮，则该检测装置(1)对应的数字输入输出端口的工作状态正常；否则，该检测装置(1)对应的数字输入输出端口损坏。