[发明专利]西瓜品质无损检测方法及装置

摘要

本发明涉及瓜果类检测技术领域，本发明公开了一种西瓜品质无损检测方法及装置，该方法包括：选取多个样本西瓜，分别采用排水法测量出每个样本西瓜的初始体积，利用CCD摄像机采集样本西瓜的图像信息并传输给计算机，计算机将图像信息处理后计算出样本西瓜的长度、宽度和高度，并建立待测西瓜的体积模型：V＝4/3×K×a×b×c，根据样本西瓜的初始体积和长度、宽度、高度拟合出K值，根据该模型测量出待测西瓜的体积，并测量出其质量，根据质量和体积计算出密度，最后根据密度判断出该待测西瓜的品质。本发明结合数字图像处理、传输系统和计算机控制技术，实现西瓜品质无损分类和识别，操作简单、检测性能稳定。

主权项

一种西瓜品质无损检测方法，其特征在于，包括：S1、选取多个样本西瓜，分别采用排水法测量出每个样本西瓜的初始体积；S2、通过输送系统将样本西瓜输送到采集平台上的控制平台，通过计算机调节控制平台以调节样本西瓜的位置，利用采集平台上方的摄像机采集样本西瓜的图像信息并传输给计算机，计算机将所述图像信息处理后计算出样本西瓜的长度、宽度和高度；S3、建立待测西瓜的体积模型：V＝4/3×K×a×b×c，其中，V为待测西瓜的体积，a、b、c分别为样本西瓜或待测西瓜的长度、宽度和高度，K为常量，根据步骤S1的初始体积和步骤S2的长度、宽度、高度拟合出K值；S4、将样本西瓜换成待测西瓜并重复步骤S2，测量出待测西瓜的长度、宽度和高度，根据体积模型V＝4/3×K×a×b×c，计算出待测西瓜的体积V；S5、测量待测西瓜的质量，并根据待测西瓜的质量和体积V计算出待测西瓜的密度，最后根据密度判断出该待测西瓜的品质。