[发明专利]粒子线治疗计划装置及粒子线治疗装置无效
申请号: | 201210113609.0 | 申请日: | 2012-04-17 |
公开(公告)号: | CN102743821A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 藤高伸一郎;藤井佑介;藤本林太郎;平本和夫;秋山浩 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | A61N5/10 | 分类号: | A61N5/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;李家浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供粒子线治疗计划装置及粒子线治疗装置。在均匀扫描或层叠原体扫描中,能有效地利用带电粒子束并缩短治疗时间。在均匀扫描中,治疗计划装置计算一样地照射准直器开口区域的最佳的带电粒子束扫描路径。在层叠原体照射中,治疗计划装置对每个层计算一样地照射层分割了的患部各层的多叶式瞄准仪开口区域的最佳的带电粒子束扫描路径,或者,治疗计划装置计算覆盖各层的多叶式瞄准仪开口区域的最小的照射区域尺寸,选择与存储在粒子线治疗控制装置的存储器上的照射区域尺寸对应的带电粒子束扫描路径。通过与准直器开口区域一致地使均匀扫描或在层叠原体照射的各层的横向的带电粒子束扫描路径适当地变化,解决课题。 | ||
搜索关键词: | 粒子 治疗 计划 装置 | ||
【主权项】:
一种治疗计划装置,其计划均匀扫描,该均匀扫描为:利用电磁铁扫描带电粒子束,在横向上形成一样的剂量分布,该治疗计划装置的特征在于,考虑准直器开口部地计算最适当的横向的扫描路径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210113609.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:水资源监测系统
- 下一篇:一种治疗牛皮癣的药物及其制备方法