[发明专利]高介电常数陶瓷/聚合物基复合介电材料的制备方法无效
申请号: | 201210116870.6 | 申请日: | 2012-04-19 |
公开(公告)号: | CN102653622A | 公开(公告)日: | 2012-09-05 |
发明(设计)人: | 宋洪松;杨程 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 |
主分类号: | C08L27/16 | 分类号: | C08L27/16;C08K9/06;C08K3/24;C08J5/18;B29C43/58 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 梁瑞林 |
地址: | 10009*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于复合材料领域,涉及对高介电常数陶瓷/聚合物基复合介电材料制备方法的改进。本发明制备的步骤是:填料预处理;配料;配制原料混合液;涂膜;热压成形。本发明提供了制备高介电常数陶瓷/聚合物基复合介电材料的新方法,进一步提高了复合介电材料的介电常数。 | ||
搜索关键词: | 介电常数 陶瓷 聚合物 复合 材料 制备 方法 | ||
【主权项】:
高介电常数陶瓷/聚合物基复合介电材料的制备方法,其特征在于,制备的步骤如下:1.1、填料预处理:将硅烷偶联剂Si69滴加到钛酸铜钙陶瓷粉中,所滴加的硅烷偶联剂Si69的质量占钛酸铜钙陶瓷粉质量的5%~30%,搅拌均匀,然后置于150℃烘箱中烘烤5min~15min;1.2、配料:按照比例量取聚偏氟乙烯和预处理后的钛酸铜钙陶瓷粉末;钛酸铜钙陶瓷粉末所占的体积百分比为10%~40%,钛酸铜钙陶瓷粉末的颗粒尺寸为10μm~500μm,余量为聚偏氟乙烯;1.3、配制原料混合液:将量取的钛酸铜钙陶瓷粉末与聚偏氟乙烯置于容器中,倒入N,N‑二甲基甲酰胺,聚偏氟乙烯与N,N‑二甲基甲酰胺的体积比为1∶(15~20),放入磁力搅拌器中搅拌1h~2h,制成原料混合液;1.4、涂膜:将原料混合液在玻璃板上涂膜,涂层厚度为0.1mm~0.8mm,自然干燥后揭下形成复合介电膜;1.5、热压成形:将复合介电膜铺在成形模具中,在热压机上压制,压制温度为180℃~220℃、压强为10MPa~20MPa,保压时间10min~20min,制成高介电常数陶瓷/聚合物基复合介电材料。
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