[发明专利]老化试验方法

摘要

本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。

主权项

一种老化试验方法，以如下方式进行，将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少使所述多个光源元件和所述多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下，对所述多个光源元件通电，其中，所述光源元件具有老化试验时高度方向的位置相互不同的上电极和下电极，所述多个光源元件成列配置在作为基板的光源元件配置用条上，所述光源元件配置用条具备与所述光源元件的所述下电极电连接的引出下电极，使所述上电极用的片状探针和所述下电极用的片状探针分别接触于所述上电极及所述引出下电极，经由所述上电极用的片状探针及所述上电极与所述下电极用的片状探针及所述引出下电极，对所述光源元件通电，所述上电极用的片状探针与所述上电极接触的角度相对浅，所述下电极用的片状探针与所述引出下电极接触的角度相对深，所述光源元件的上电极的表面粗糙度比所述引出下电极的表面粗糙度大。