[发明专利]非接触式测电装置无效
申请号: | 201210119071.4 | 申请日: | 2012-04-23 |
公开(公告)号: | CN102628888A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 何林 | 申请(专利权)人: | 何林 |
主分类号: | G01R19/155 | 分类号: | G01R19/155 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 233000 安徽省蚌埠*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明是关于一种非接触式测电装置。该测电装置由6V直流电源、感应信号检测电路、多谐振荡器电路和音频输出电路组成,多谐振荡器电路中的时基电路IC1选用的型号为NE555。本发明不仅能测出被测金属物体是否带电,而且非接触式测电装置的检测探头被绝缘材料包裹,在使用测电装置时,检测探头不需要直接接触到带电金属物体,只要检测探头接近带电区域即可进行检测,有效的弥补了现行试电笔存在的缺陷。克服了现有试电笔只能识别有危险的触电电压(即:大于100V的电压),不能测试80V以下无危险性的感应电压的缺陷。非接触式测电装置具有电路结构简单、性能可靠、使用方便等优点,利用此技术方案可以开发成为日常使用的电工工具。 | ||
搜索关键词: | 接触 式测电 装置 | ||
【主权项】:
一种非接触式测电装置,它由6V直流电源、感应信号检测电路、多谐振荡器电路和音频输出电路组成,其特征包括:感应信号检测电路由检测探头TAN、场效应晶体管VT1和电位器RP,场效应晶体管VT1的栅极G接检测探头TAN,场效应管VT1的漏极D接电位器RP的一端,电位器RP的另一端及其活动臂接电路正极VCC,场效应管VT1的源极S接电路地GND;多谐振荡器电路由时基电路IC1、电容C1和电阻R1组成,时基电路IC1选用的型号为NE555,时基电路IC1的第4脚接场效应管VT1的漏极D,时基电路IC1的第2脚和第6脚接电容C1的一端和电阻R1的一端,时基电路IC1的第1脚和电容C1的另一端接电路地GND,时基电路IC1的第3脚接电阻R1的另一端,时基电路IC1的第8脚接电路正极VCC;音频输出电路由电解电容C1和喇叭SP组成,时基电路IC1的第3脚接电解电容C1的正极,电解电容C1的负极接喇叭SP的一端,喇叭SP的另一端接电路地GND。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于何林,未经何林许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210119071.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种膨化机出料模板
- 下一篇:陶瓷模及其线型加温塑胶融合工艺