[发明专利]一种制备GaN生长用图形化蓝宝石衬底的方法有效
申请号: | 201210119613.8 | 申请日: | 2012-04-20 |
公开(公告)号: | CN103378221A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 代锦红;王农华;孙永健;张国义 | 申请(专利权)人: | 东莞市中镓半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 523500 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种制备GaN生长用图形化蓝宝石衬底的方法。首先,在蓝宝石衬底上制备一层SiO2薄膜,以图形化光刻胶为掩膜,利用BOE溶液蚀刻SiO2,形成到二氧化硅掩膜图形;然后再湿蚀刻蓝宝石衬底,得到图形化蓝宝石衬底,其特征在于,在用BOE溶液蚀刻SiO2前,将衬底放入特定的缓冲液中浸泡进行预处理,从而有效解决了BOE溶液蚀刻裸露的SiO2时出现的不均匀现象,避免SiO2掩膜局部脱落,形成均匀、规则的SiO2掩膜,使得后续工艺制备的蓝宝石图形也很均匀,为外延生长提供一个外观完美、均匀的图形化蓝宝石衬底,有效提高外延生长质量,大大减少位错密度。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 gan 生长 图形 蓝宝石 衬底 方法 | ||
【主权项】:
一种制备图形化蓝宝石衬底的方法,包括以下步骤:1)在C面蓝宝石衬底上制备一层二氧化硅薄膜;2)在二氧化硅薄膜上光刻形成图形化光刻胶掩膜;3)将步骤2)得到的衬底放入质量百分比浓度为1.5‑4%的氢氟酸溶液中,在20~50℃浸泡20‑50秒,取出进行步骤4);4)将衬底放入BOE溶液中蚀刻去光刻胶掩膜图形间隙裸露的二氧化硅,然后去除光刻胶,形成图形化二氧化硅掩膜;5)在图形化二氧化硅掩膜保护下,利用酸腐蚀液蚀刻蓝宝石衬底,得到图形化蓝宝石衬底;6)湿蚀刻去除二氧化硅掩膜。
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