[发明专利]基于人工免疫抗原-抗体结合能的模式识别方法无效
申请号: | 201210120608.9 | 申请日: | 2012-04-24 |
公开(公告)号: | CN102663433A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 刘颖慧;刘树林;张宏利;李栋;姜锐红;唐友福 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于人工免疫抗原-抗体结合能的模式识别方法。它是根据免疫系统中抗体识别抗原的过程,实质上是抗体对位与抗原表位化学键的结合过程,识别效果的好坏取决于化学键结合能的大小,在这样的结合方式启发下,首先进行整体识别,即计算抗原表位与抗体对位亲和度来进行初次模式识别,然后根据化学键的局部结合位的结合能大小进行局部识别,即二次模式识别。本发明包括如下步骤:(1)利用欧式距离计算抗原表位与抗体对位之间的亲和度,根据亲和度大小进行初次模式识别;(2)根据几种典型分类数据确定局部结合能的匹配参数;(3)抗体对位根据局部结合能大小对抗原表位进行二次模式识别,在整体识别与局部识别共同作用下,简单有效的完成对抗原表位的识别。 | ||
搜索关键词: | 基于 人工免疫 抗原 抗体 结合能 模式识别 方法 | ||
【主权项】:
一种基于人工免疫抗原‑抗体结合能的模式识别方法,其特征在于:首先进行整体识别,利用欧氏距离计算抗原表位与抗体对位之间的亲和度,完成初次模式识别;然后,通过判断抗原表位与抗体对位之间相对应位置的局部结合能是否满足匹配参数来进行二次模式识别,匹配参数的最佳取值范围是根据多种国际标准分类数据测试得到。
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