[发明专利]用于使用打嗝复位的可测试电流限制的系统和方法

摘要

本发明涉及用于使用打嗝复位的可测试电流限制的系统和方法。提供使用打嗝复位的可测试电流限制。在一个实施例中，电流限制器包含：具有传输晶体管的电流调节电路，其中传送到负载侧的负载电流流经传输晶体管，电流调节电路在负载电流超过阈值时钳位负载电流；锁存调节电路，耦合到电流调节电路，且还通过具有高于传输晶体管的导通电压阈值的半导体耦合到线路侧；以及电流限制测试电路，配置成向负载侧输出应用参考阻抗。锁存调节电路将来自电流调节电路的电压与在半导体处测量的电压进行比较以确定负载电流何时超过阈值。当负载电流超过阈值达超过预定期间的时间周期时，锁存调节电路临时关闭传输晶体管。

主权项

具有线路侧输入（102）和负载侧输出（104）的电流限制器设备（100，200），该设备包含：具有耦合线路侧输入（102）到负载侧输出（104）的传输晶体管（111，M2）的电流限制器设备（110，210），其中传送到负载侧输出（104）的负载电流流经传输晶体管（111，M2），且其中电流限制器设备（110，210）配置成在负载电流超过电流限制阈值时将负载电流钳位到预定电流限制；耦合到电流限制器设备（110，210）的锁存调节电路（120，220），该锁存调节电路（120，220）还通过具有高于传输晶体管（111，M2）的导通电压阈值的半导体装置（122，D8）耦合到线路侧输入（102）；     其中锁存调节电路（120，220）将从电流限制器设备（110，210）接收的第一电压与在半导体装置（122，D8）处测量的第二电压进行比较以确定负载电流何时超过电流限制阈值；     其中当负载电流超过电流限制阈值达超过预定电流限制期间的时间周期时，锁存调节电路（120，220）临时关闭传输晶体管（111，M2）达预定锁存周期；以及耦合到负载侧输出（104）的电流限制测试电路（130，230），该电流限制测试电路（130，230）包括参考阻抗（131，R8）和开关装置（132，Q3），其中开关装置配置成向负载侧输出（104）应用参考阻抗（131、R8）。