[发明专利]一种高分辨力变量程微尺度材料试验机有效
| 申请号： | 201210122337.0 | 申请日： | 2012-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN102636390A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 郇勇;邵亚琪;代玉静 | 申请（专利权）人： | 中国科学院力学研究所 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01L1/00 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高分辨力变量程微尺度材料试验机，包括：支架、升降机构、位移传感器、具有一定重量的重力块和电子天平，升降机构安装在支架上，位移传感器的一端设置在升降机构上，所述升降机构用于在高度方向上对位移传感器进行举升；位移传感器的另一端固定有第一夹具，重力块置于电子天平上，重力块上安装有第二夹具，当测量10-6N～1N的载荷时，试样夹持在第一夹具和第二夹具之间。本发明可以实现微尺度测量，测量范围为10-6N～101N量级。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分辨力 量程 尺度 材料 试验 | ||
【主权项】：
一种高分辨力变量程微尺度材料试验机，其特征在于，包括：支架、升降机构、位移传感器、具有一定重量的重力块和电子天平，升降机构安装在支架上，位移传感器的一端设置在升降机构上，所述升降机构用于在高度方向上对位移传感器进行举升；位移传感器的另一端固定有第一夹具，重力块置于电子天平上，重力块上安装有第二夹具，当测量10‑6N～1N的载荷时，试样夹持在第一夹具和第二夹具之间。
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