[发明专利]一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置及方法有效
| 申请号： | 201210122908.0 | 申请日： | 2012-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN102636744A | 公开（公告）日： | 2012-08-15 |
| 发明（设计）人： | 封国强;韩建伟;朱翔;姜昱光;上官士鹏;陈睿;马英起;余永涛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人： | 杨小蓉;杨青 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置，包括FPGA测试电路、时序控制电路和上位机控制模块；其中，时序控制电路连接到FPGA测试电路，FPGA测试电路连接到上位机控制模块；在测试过程中，FPGA测试电路、时序控制电路分别与被测FPGA相连，而时序控制电路还要连接到单粒子效应试验装置上；时序控制电路生成用于被测FPGA的工作时序控制信号以及用于单粒子效应试验装置的辐射时序控制信号；FPGA测试电路用于保存被测FPGA的配置数据，并实现配置数据在被测FPGA上的配置与回读；还用于与被测FPGA以及上位机控制模块的数据传输，以及对时序控制电路的触发；上位机控制模块用于控制FPGA测试电路，对在不同工作状态下被测FPGA的配置数据、工作数据分别加以比较。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 fpga 粒子 效应 与其 时序 特性 关系 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种检测FPGA单粒子效应与其时序特性关系的装置，其特征在于，包括FPGA测试电路(11)、时序控制电路(12)和上位机控制模块(13)；其中，所述的时序控制电路(12)连接到所述的FPGA测试电路(11)，所述的FPGA测试电路(11)连接到所述的上位机控制模块(13)；在测试过程中，所述的FPGA测试电路(11)、时序控制电路(12)分别与外部的被测FPGA(14)相连，而所述的时序控制电路(12)还要连接到外部的单粒子效应试验装置(15)上；所述的时序控制电路(12)生成用于所述被测FPGA(14)的工作时序控制信号以及用于所述单粒子效应试验装置(15)的辐射时序控制信号；所述的FPGA测试电路(11)用于保存所述被测FPGA(14)的配置数据，并实现所述配置数据在所述被测FPGA(14)上的配置与回读；还用于与所述被测FPGA(14)以及上位机控制模块(13)的数据传输，以及对所述时序控制电路(12)的触发；所述的上位机控制模块(13)用于控制所述FPGA测试电路(11)，以及对在不同工作状态下被测FPGA(14)的配置数据、工作数据分别加以比较。
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