[发明专利]基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统有效
申请号: | 201210126065.1 | 申请日: | 2012-04-26 |
公开(公告)号: | CN102628805A | 公开(公告)日: | 2012-08-08 |
发明(设计)人: | 曹暾 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 梅洪玉 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统,包括集成有光子晶体滤波片的发光二极管(LED)激发光源、微流控芯片、光纤、集成有光子晶体滤波片的光电探测器等。其通过在微流控芯片荧光检测系统的LED激发光源和光电探测器的顶部集成光子晶体滤波片,取代分离的激发光滤波片和发射光滤波片,对激发光源中覆盖荧光区域的干扰光进行滤除。本发明实现了滤波片与LED激发光源和光电探测器的集成,进一步提高了检测系统的便携性和集成度。 | ||
搜索关键词: | 基于 光子 晶体 滤波 微流控 芯片 荧光 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种基于光子晶体滤波片的微流控芯片荧光检测系统,包括激发光源、微流控芯片、光纤、光电探测器、高压电源和计算机;其特征在于:所述激发光源采用光子晶体滤波片集成发光二极管(LED),所述光电探测器采用光子晶体滤波片集成光电二极管(PD),光子晶体滤波片集成LED激发光源和PD探测器结构是在衬底上先生长一层2μm的基于III‑V族半导体材料的n型层,再生长一层反光层,然后生长一层基于III‑V族半导体材料的有源层,最后生长一层200‑300nm厚的基于III‑V族半导体材料的p型层;最后通过刻蚀工艺,在p型层刻蚀出平板光子晶体滤波片图样。
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