[发明专利]一种AD采样值校正方法及系统有效
| 申请号： | 201210128325.9 | 申请日： | 2012-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN103051339A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | 韦福松 | 申请（专利权）人： | 深圳市正弦电气股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于电子技术领域，提供了一种AD采样值校正方法及系统，所述方法包括：获取每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系；根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系；根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正。本发明实现可以得到精度较高的AD采样值，很好的改善了AD采样精度，从而得到精度较高的后续处理结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ad 采样 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种AD采样值校正方法，其特征在于，将模拟输入电压值分成多个采样区间，根据所述多个采样区间，将理论AD采样直线和实际AD采样曲线划分成多段，假设每段内的实际AD采样曲线为线性直线，所述方法包括：获取每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系；根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系；根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正。
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