[发明专利]无基准条件之配合间隙检测方法

摘要

本发明涉及测量技术领域，特指一种无基准条件之配合间隙检测方法，包括如下步骤：将按子轮廓生产得到的实体产品放入光电测量仪器的测量平台，光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品影像，并根据影像任意抓取实体产品外轮廓上多段线段；将取得的多段线段与母轮廓的标准图嵌合比较，找出多段线段中与母轮廓的标准图相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段并作为基准线，用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品，即可由光电测量仪器将实体产品之影像准确嵌合于母轮廓的标准图中，检测实体产品与母轮廓的标准图之间的配合间隙，达到间隙检测；操作工序简单，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用；有效节约原材料，降低成本。

主权项

无基准条件之配合间隙检测方法，其特征在于：该方法用于子母轮廓嵌接配合的间隙检测，包括如下步骤：1）、将母轮廓的标准图A输入光电测量仪器的电脑中存储，再将按子轮廓生产得到的实体产品B放入光电测量仪器的测量平台，光电测量仪器通过测量镜头获得实体产品B影像，并根据影像任意抓取实体产品B外轮廓上多段线段B1；2）、将步骤1）取得的多段线段B1与母轮廓的标准图A嵌合比较，找出多段线段B1中与母轮廓的标准图A相应嵌合部位之间的法向间隙最小的线段，并记为B11；3）、以步骤2）中取得的法向间隙最小的线段B11作为基准线，用于定位待被测的以子轮廓生产得到的实体产品B，即可由光电测量仪器将实体产品B之影像准确嵌合于母轮廓的标准图A中，检测出实体产品B与母轮廓的标准图A之间的配合间隙，由此达到间隙检测。