[发明专利]掩模对准装置及使用该装置的光刻设备有效
申请号: | 201210131099.X | 申请日: | 2012-05-02 |
公开(公告)号: | CN103383531A | 公开(公告)日: | 2013-11-06 |
发明(设计)人: | 徐兵;周畅;陈跃飞;贾翔 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种掩模对准装置,包括:一照明系统,用于提供一光源照射第一标记与第二标记;一投影物镜,用于将第一标记成像;一第一支撑装置,用于承载所述第一标记,所述第一标记位于一掩模板上;一第二支撑装置,用于承载所述第二标记,所述第二标记位于一基准板上;一成像探测系统,用于探测所述第一标记的成像位置与所述第二标记位置的偏差;其特征在于,所述成像探测系统固定于所述第二支撑装置内,且所述第二标记位于所述成像探测系统的视场范围内,所述投影物镜与所述成像探测系统共用所述照明系统。 | ||
搜索关键词: | 对准 装置 使用 光刻 设备 | ||
【主权项】:
一种掩模对准装置,包括:一照明系统,用于提供一光源照射第一标记与第二标记;一投影物镜,用于将第一标记成像;一第一支撑装置,用于承载所述第一标记,所述第一标记位于一掩模板上;一第二支撑装置,用于承载所述第二标记,所述第二标记位于一基准板上;一成像探测系统,用于探测所述第一标记的成像位置与所述第二标记位置的偏差;其特征在于,所述成像探测系统固定于所述第二支撑装置内,且所述第二标记位于所述成像探测系统的视场范围内,所述投影物镜与所述成像探测系统共用所述照明系统。
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