[发明专利]一种校准器件及超材料谐振频率测试平台有效
申请号: | 201210133011.8 | 申请日: | 2012-04-28 |
公开(公告)号: | CN102680781A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 刘若鹏;栾琳;郭洁;马伟涛;刘豫青 | 申请(专利权)人: | 深圳光启创新技术有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02;G01R35/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518034 广东省深圳市福田*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种校准器件及超材料谐振频率测试平台,通过使用根据本发明的校准器件,可以对超材料谐振频率测试平台进行校准,通过本发明的超材料谐振频率测试平台,可以准确地测得超材料的谐振频率,实现对超材料产品参数性质的检测,还能为超材料的应用提供测试手段,进而提高超材料的研发设计效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 校准 器件 材料 谐振 频率 测试 平台 | ||
【主权项】:
一种校准器件,其特征在于,所述校准器件包括封装外壳、线圈电感以及与线圈电感并联的电容,所述线圈电感与所述电容封装固定在所述封装外壳内。
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