[发明专利]超快恢复二极管无效

专利信息
申请号: 201210135173.5 申请日: 2006-12-19
公开(公告)号: CN102683428A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 理查德·弗朗西斯;李健;范杨榆;埃里克·约翰逊 申请(专利权)人: 美商科斯德半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/872;H01L29/06
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丙林;刘书芝
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及超快恢复二极管。一种超快二极管,其中超快二极管形成为平面构造,包括:第一极性的衬底;第一极性的轻掺杂层,连接至衬底;超快二极管的阴极,与轻掺杂层相对设置在衬底的表面上;金属化层,设置在轻掺杂层上作为超快二极管的阳极;彼此分离的多个阱,形成在轻掺杂层中,包括第二极性的掺杂质,其中,阱电连接至金属化层;以及多个JFET沟道区,位于多个阱中的各个阱之间,比轻掺杂层更重地掺杂第一极性,超快二极管被构造成使得在正向偏压条件下多数电流流过沟道区。该超快二极管保持软恢复特性并具有减少的反向恢复电荷。
搜索关键词: 恢复 二极管
【主权项】:
一种超快二极管,其中所述超快二极管形成为平面构造,包括:第一极性的衬底;所述第一极性的轻掺杂层,连接至所述衬底;所述超快二极管的阴极,与所述轻掺杂层相对设置在所述衬底的表面上;金属化层,设置在所述轻掺杂层上作为所述超快二极管的阳极;彼此分离的多个阱,所述多个阱形成在所述轻掺杂层中,所述多个阱包括第二极性的掺杂质,其中,所述多个阱电连接至所述金属化层;以及多个JFET沟道区,位于所述多个阱中的各个阱之间,所述多个JFET沟道区比所述轻掺杂层更重地掺杂所述第一极性,所述超快二极管被构造成使得在正向偏压条件下多数电流流过所述JFET沟道区。
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