[发明专利]具备绝缘劣化检测装置的电机控制装置及电机的绝缘劣化检测方法有效

专利信息
申请号: 201210136098.4 申请日: 2012-05-04
公开(公告)号: CN102769428A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 井出勇治 申请(专利权)人: 山洋电气株式会社
主分类号: H02P27/08 分类号: H02P27/08;G01R27/02;G01R31/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 樊建中
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种具备绝缘劣化检测装置的电机控制装置及电机的绝缘劣化检测方法,该装置具备能将自举电路应用于半导体开关的驱动器电路的绝缘电阻检测功能。电压分压电路经由以继电器触点构成的常开开关电路配置在负极直流输出部的一端与地线之间。在断路器处于断开状态时,检测动作控制部使常开开关电路处于闭合状态。并且,检测动作控制部进行如下检测动作:利用相同占空比的PWM信号反复进行使逆变器电路中的一个桥臂电路的一对晶体管的一个处于导通状态而使另一个处于截止状态,然后使一个处于截止状态而使另一个处于导通状态这样的驱动。然后,绝缘电阻检测部基于从电压分压电路输出的分压电压和输入至逆变器电路的直流电压来检测绝缘电阻。
搜索关键词: 具备 绝缘 检测 装置 电机 控制 方法
【主权项】:
一种电机控制装置,其特征在于具备:整流电路,其经由断路器与交流电源连接,并且在正极直流输出部与负极直流输出部之间具有平滑用电容器;1个以上的逆变器电路,其由多个桥臂电路并联连接而构成,并向1个以上的电机的多相的励磁线圈施加电压,其中该多个桥臂电路各自由一对半导体开关串联连接而构成且所述一对半导体开关的连接点成为交流输出部,所述多个桥臂电路中的上级的所述半导体开关的驱动器电路由自举电路构成;和绝缘劣化检测装置,其检测所述电机的绝缘劣化,所述绝缘劣化检测装置具备:电压分压电路,其经由常开开关电路配置在所述正极直流输出部及负极直流输出部中的一者与地线之间;检测动作控制部,其在所述断路器处于断开状态时使所述常开开关电路处于闭合状态,并进行如下的检测动作,即:利用相同占空比的脉冲宽度调制信号反复进行使所述多个桥臂电路的至少一个所述桥臂电路中的所述一对半导体开关的一个半导体开关处于导通状态而使另一个半导体开关处于截止状态,然后使一个半导体开关处于截止状态而使另一个半导体开关处于导通状态这样的驱动,从所述平滑用电容器向至少1相的所述励磁线圈交替施加正电压及负电压,并且在下级的所述半导体开关处于导通时使上级的所述半导体开关的所述自举电路变为充电动作状态;和绝缘电阻检测部,其在所述检测动作中,基于从所述电压分压电路输出的分压电压和输入至所述逆变器电路的直流电压来检测绝缘电阻。
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