[发明专利]一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法有效
| 申请号： | 201210137832.9 | 申请日： | 2012-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN103383364B | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 邵伟;胡文平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01N25/12 | 分类号： | G01N25/12 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司11245 | 代理人： | 关畅 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定聚合物薄膜玻璃化转变温度的方法。该方法，包括如下步骤将待测聚合物样品作为构成有机场效应晶体管的聚合物薄膜层的材料，在恒定栅压VG和恒定源漏电压VSD的条件下升温所述有机场效应晶体管，测定所述有机场效应晶体管在所述升温过程中的源漏电流输出曲线，所述源漏电流输出曲线的转折点所对应的温度即为所述待测聚合物样品的玻璃化转变温度。该方法操作简便，制备工艺简单，可方便快捷的测出聚合物薄膜以及超薄膜的玻璃化转变温度，且灵敏度高、准确性、重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 聚合物 薄膜 玻璃化 转变 温度 方法 | ||
【主权项】：
一种测定聚合物玻璃化转变温度的方法，包括如下步骤：将待测聚合物样品作为构成有机场效应晶体管的聚合物薄膜层的材料，在恒定栅压和恒定源漏电压的条件下升温所述有机场效应晶体管，测定所述有机场效应晶体管在所述升温过程中的源漏电流输出曲线，所述源漏电流输出曲线的转折点所对应的温度即为所述待测聚合物样品的玻璃化转变温度。
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