[发明专利]一种表征喷丸残余应力均一性的云图测量法无效

专利信息
申请号: 201210138172.6 申请日: 2012-05-07
公开(公告)号: CN102654468A 公开(公告)日: 2012-09-05
发明(设计)人: 姜传海;黄俊杰;詹科;冯强;吴雪艳 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 林君如
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种表征喷丸残余应力均一性的云图测量法,利用X射线衍射残余应力测量衍射技术,用小直径0.5mm的准直管控制光斑面积,在样品有效喷丸区内选择一面积为10*10mm正方形区域按1mm的间隔,对纵横两个方向进行应力云图测量,获取100个点的应力测量数据,分别求取残余应力平均值、方差及标准差,用标准差与平均应力值的比值作为表征表层残余应力均一性的指标。本发明属于一种无损检测技术,不需要破坏工件,对于同一种材料一旦建立起均一性表征指标,可对于相同的金属材料,不同喷丸工艺条件下表层残余应力均一性进行评价,测量精度高,可以广泛应用于金属件喷丸层均一性评估。
搜索关键词: 一种 表征 残余 应力 均一 云图 测量
【主权项】:
一种表征喷丸残余应力均一性的云图测量法,其特征在于,该方法包括以下步骤:第一步,对金属材料进行喷丸处理,进行X射线衍射残余应力云图测量;第二步,在获取100mm2内100个点的残余应力值的基础上,分别进行均值,方差和标准差的计算;第三步,将标准差与均值之比(H)作为喷丸均一性的指标,对奥氏体不锈钢同类材料,当H>0.35,均一性好,0.30<H<0.35,均一性中等,H<0.30,均一性差。
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