[发明专利]基于双线阵CCD的带材宽度测量方法及系统

摘要

本发明公开了一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法，仿照人类利用两只眼睛感知距离的方法，通过左右两个CCD检测传感器获得带材的两端的视差，就能够获得带材两端点的Y轴坐标；再根据其几何特性，便可获得带材两端点的X轴坐标，将带材的宽度测量问题转化为空间内两点的距离问题，继而得到带材的宽度。本发明还公开了用于实现该方法的测量系统。本发明在测量高速生产线上带材宽度时不受振动干扰，测量精度高。

主权项

1.一种基于双线阵CCD的带材宽度测量方法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1、在待测量带材（2）的下方设置直线型光源（1），在待测量带材（2）的上方设置相间隔的左侧CCD检测传感器（3）和右侧CCD检测传感器（8），所述左侧CCD检测传感器（3）和右侧CCD检测传感器（8）的连线与带材（2）和光源（1）均相平行；其中，所述左侧CCD检测传感器（3）光学中心为C₁，所述右侧CCD检测传感器（8）光学中心为C₂，C₁和C₂的间距为b，所述左侧CCD检测传感器（3）和右侧CCD检测传感器（8）的成像焦距均为f，以C₁和C₂的连线为X轴方向，以左侧CCD检测传感器（3）的光轴为Y轴方向，建立平面直角坐标系；步骤2、通过左侧CCD检测传感器（3）和右侧CCD检测传感器（8）分别获得带材（2）在光源（1）照射下的两个成像平面信息，计算带材（2）左端点P点在上述两个成像平面中Y轴坐标的位置差异，将该位置差异定义为P点的视差s₁，计算P点在Y轴上的坐标y₁：计算带材（2）右端点Q点在上述两个成像平面中Y轴坐标的位置差异，将该位置差异定义为Q点的视差s₂，计算Q点在Y轴上的坐标y₂：步骤3、根据几何特性，分别计算P点在X轴上的坐标x₁以及Q点在X轴上的坐标x₂；步骤4、计算带材（2）的宽度W：