[发明专利]共光路多模块拼接焦平面图像非均匀性校正方法无效
| 申请号： | 201210141252.7 | 申请日： | 2012-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN102708546A | 公开（公告）日： | 2012-10-03 |
| 发明（设计）人： | 雍朝良;陈凡胜;孙胜利 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 郭英 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多模块拼接焦平面的图像非均匀性校正的方法，其特征在于利用匹配角点的灰度信息作为两点非均匀性校正的输入，调整整体图像的灰度，使得视场内整体图像的灰度均匀性与连续性优于传统的过渡带平滑进行灰度连续性调整的方法。同时，本发明针对共光路成像不同焦平面不受角度与光强的影响的特点，创新性的完成了不同焦平面之间的图像整体非均匀性校正。 | ||
| 搜索关键词： | 共光路多 模块 拼接 平面 图像 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种多模块拼接焦平面的图像非均匀性校正的方法，其特征在于：在一块焦平面模块中利用成像过程中不同像素对应的不同光通量得到一个基准线性方程；然后在另外一个焦平面模块上找到具有同样特征信息的点得到一个待校正的线性方程，通过两点式非均匀性校正算法，可以得到匹配特征点的校正参数；通过特征匹配点的校正参数对其他的像素进行校正，最终得到视场范围内灰度连续性良好的最终图像。
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