[发明专利]多芯片覆晶封装模组及相关的制造方法无效
申请号: | 201210141377.X | 申请日: | 2012-05-09 |
公开(公告)号: | CN103390594A | 公开(公告)日: | 2013-11-13 |
发明(设计)人: | 杨玉林 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/98 | 分类号: | H01L21/98;H01L25/065;H01L23/31;H01L23/367;H01L23/495 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出的多芯片覆晶封装模组之一,包含有多个芯片,每个芯片都包含有多个接点,可用以藉由导电元件而耦接至另一芯片的接点,或者藉由导电元件而耦接至引脚。多芯片覆晶封装模组另包含有介电元件,设置于芯片与芯片之间以及设置于芯片与导电元件之间,以提供绝缘效果。多芯片覆晶封装模组还包含有封装元件,以包覆该等芯片以及连接于芯片间的导电元件,以提供保护效果。在上述的多芯片覆晶封装模组中,多个芯片可以在封装模组中藉由导电元件而相互连接,并且也能够结合于引脚,因此能够使封装模组所需的引脚减少、电流承载能力增强并且散热性更佳。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 模组 相关 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种多芯片覆晶封装模组的制造方法,其包含:将一第一芯片的一第二表面及一第二芯片的一第二表面接合至一第二载板;将一第一介电元件设置于该第一芯片与该第二芯片间;将包含有多个导电元件的一第一导电元件组设置于该第一芯片的一第一表面的多个接点的部分接点上方,以及设置于该第二芯片的一第一表面的多个接点的部分接点上方;使用包含有使用多个导电元件的一第二导电元件组,将该第一芯片的第一表面的该多个接点的部分接点连接至该第二芯片的第一表面的该多个接点的部分接点;将该第一导电元件组的多个导电元件接合至一引线框的多个条状部分;以及使用一封装元件包覆该第一芯片、该第二芯片及该第二导电元件组以形成一多芯片覆晶封装模组。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于立锜科技股份有限公司,未经立锜科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210141377.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造