[发明专利]一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法有效
| 申请号： | 201210143260.5 | 申请日： | 2012-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN102679909A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | 段发阶;吕昌荣;张超;段晓杰;张甫恺 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 温国林 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法，涉及相位轮廓测量领域，构建光纤干涉条纹投射系统；根据所述光纤干涉条纹投射系统获取条纹投射测量模型；所述光纤干涉条纹投射系统根据所述条纹投射测量模型获取物体表面相位信息 |
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| 搜索关键词： | 一种 光纤 干涉 条纹 投射 相位 调制 测量 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光纤干涉条纹投射中初相位及调制度测量控制方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：(1)构建光纤干涉条纹投射系统；(2)根据所述光纤干涉条纹投射系统获取条纹投射测量模型；(3)所述光纤干涉条纹投射系统根据所述条纹投射测量模型获取物体表面相位信息![]()
(4)构建初始相位差及相位调制度系数的测量控制系统；(5)获取初始相位![]()
及相位调制度系数k。
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