[发明专利]X射线检测器的框架和X射线检测器在审
| 申请号： | 201210143423.X | 申请日： | 2012-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN103371839A | 公开（公告）日： | 2013-10-30 |
| 发明（设计）人： | 陈涛 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01V5/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 肖日松;谭祐祥 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线检测器的框架和X射线检测器。该框架(100)包括：背板(102)，其放置在支承台(17)上，用于支承所述X射线检测器(24)的成像板(104)并且因此支承接触所述成像板(104)的受检者(16)；侧板(106)，其布置在所述背板(102)与所述成像板(104)之间并且围绕所述成像板(104)；其中，所述背板(102)和所述侧板(106)中的至少一个为板状件。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 框架 | ||
【主权项】：
一种用于X射线检测器(24)的框架(100)，包括：背板(102)，其放置在支承台(17)上，用于支承所述X射线检测器(24)的成像板(104)并且因此支承接触所述成像板(104)的受检者(16)；侧板(106)，其布置在所述背板(102)与所述成像板(104)之间并且围绕所述成像板(104)；其中，所述背板(102)和所述侧板(106)中的至少一个为板状件。
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