[发明专利]小尺寸CMOS图像传感器像素结构及生成方法有效
申请号: | 201210143666.3 | 申请日: | 2012-05-10 |
公开(公告)号: | CN102683372A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
发明(设计)人: | 姚素英;孙羽;高静;徐江涛;史再峰;高志远 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及金属互补氧化物半导体固态图像传感器。为提供一种小尺寸的CMOS图像传感器像素的光电二极管结构,使得优化后的小像素单元可以在不增大暗电流的情况下增加满阱容量,从而间接增大动态范围、信噪比等,完成小像素下像素单元的优化设计,为达到上述目的,本发明采取的技术方案是,小尺寸CMOS图像传感器像素结构,像素光电二极管是由在P型外延层上注入一个较浅的N型区域埋层构成,N型区域是一个开口向左、由同型扩散系数较大的杂质构成的U型埋层结构,U型埋层结构中间位置是扩散系数较小的同型杂质;扩散系数较大的杂质注入层将扩散系数较小的杂质注入层全部包埋。本发明主要应用于CMOS固态图像传感器的设计制造。 | ||
搜索关键词: | 尺寸 cmos 图像传感器 像素 结构 生成 方法 | ||
【主权项】:
一种小尺寸CMOS图像传感器像素结构,其特征是,由一种杂质半导体构成光电二极管N埋层外层,由另一种杂质半导体构成光电二极管N埋层内层,构成光电二极管N埋层内层的杂质半导体比构成N埋层外层杂质半导体浓度大、扩散系数小,N埋层的内层形状为开口向左的U型,U型中间部位由P型掺杂注入形成P插入层,P插入层范围左侧始自光电二极管区域左侧边界,右侧最远距离传输管X处,X范围最大值不大于整个光电二极管N埋层宽度,最小值趋向于零但始终大于零,N埋层的外层N埋层的内层全部包埋。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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