[发明专利]一种电荷补偿肖特基半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 201210144437.3 | 申请日: | 2012-04-29 |
公开(公告)号: | CN103378131A | 公开(公告)日: | 2013-10-30 |
发明(设计)人: | 朱江 | 申请(专利权)人: | 朱江 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 113200 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种电荷补偿肖特基半导体装置,当半导体装置接一定的反向偏压时,第一导电半导体材料与第二导电半导体材料可以形成电荷补偿,可以提高器件的反向击穿电压,或者改善器件的正向导通特性;本发明还提供了一种超级结肖特基半导体装置的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 电荷 补偿 肖特基 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种电荷补偿肖特基半导体装置,其特征在于:包括:衬底层,为半导体材料构成;漂移层,位于衬底层之上,为第一导电半导体材料;多个沟槽,位于漂移层第一导电半导体材料表面,沟槽内下部填充第二导电半导体材料,沟槽内上部侧壁设置有绝缘材料,沟槽内上部填充介质材料,并且沟槽内上部填充介质材料与沟槽内下部填充第二导电半导体材料相连;肖特基势垒结,位于第一导电半导体材料表面。
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