[发明专利]用于光学相干断层扫描的系统和方法有效
| 申请号： | 201210146124.1 | 申请日： | 2008-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN102679866A | 公开（公告）日： | 2012-09-19 |
| 发明（设计）人： | R·尼博西斯;R·朔伊尼曼;E·-G·科普 | 申请（专利权）人： | 爱克发医疗保健公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 比利时*** | 国省代码： | 比利时;BE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于光学相干断层扫描的一种系统以及一种相应的方法，具有：至少一个干涉仪(20)，该干涉仪(20)用于输出用来照射样本(1)的空间短相干或者非相干的光，拥有样本物镜(41)的样本臂，通过该样本物镜(41)把由该干涉仪(20)所输出的光聚焦到位于该样本(1)中的焦点上，以及最好拥有布置在平面中的多个探测器单元的探测器，该探测器用于探测由该样本(1)所反射的光。为了可靠地记录最锐利的样本(1)图像，在探测分别在该样本(1)的不同深度中反射的光期间，该样本物镜(41)的成像特性发生改变。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 相干 断层 扫描 系统 方法 | ||
【主权项】：
用于光学相干断层扫描的系统，其具有：‑至少一个干涉仪(10，20)，该干涉仪(10，20)用于输出用来照射样本(1)的光(4)，‑拥有样本物镜(41)的样本臂(22)，通过该样本物镜(41)把由该干涉仪(10，20)所输出的光(4)聚焦到位于该样本(1)中的焦点(F)上，以及‑探测器(30)，该探测器用于探测由该样本(1)所反射的光，其特征在于，所述系统具有：‑用于控制所述系统的控制单元使得在探测分别在该样本(1)的不同深度(T1‑T3)中反射的光期间，该样本物镜(41)的成像特性发生改变。
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