[发明专利]大工件直径激光测量系统及测量方法无效

专利信息
申请号: 201210146571.7 申请日: 2012-05-14
公开(公告)号: CN103424079A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 朱沙;赵云;陈世超;郑军 申请(专利权)人: 中国测试技术研究院力学研究所
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种大工件直径激光测量系统及测量方法,属于精密测量领域。测量系统包括测量装置和主机箱;测量装置包括激光扫描头、步进电机和测量架;测量架内安装有精密导轨和精密丝杆;激光扫描头搭载在精密丝杆上、精密丝杆置于精密导轨上、由步进电机驱动运行;测量架两端设有可转动的支撑脚;主机箱中包括微处理器、激光控制器、数据采集模块数据处理模块、走位控制器、激光电源、显示屏。测量方法包括校准、测量和计算。本发明减轻了检验人员的劳动强度,提高检测效率,克服手工操作、目视读数、人工计算等人为因素影响,提高测量精度和可靠性。测量直径范围600-1400mm,精度0.1mm。可用于工业现场大工件直径的测量。
搜索关键词: 工件 直径 激光 测量 系统 测量方法
【主权项】:
一种大工件直径激光测量系统,包括测量装置和主机箱;其特征在于,测量装置包括激光扫描头(1)、步进电机(2)和测量架(3);测量架(3)内安装有精密导轨(4)和精密丝杆(5);激光扫描头(1)搭载在精密丝杆(5)上、精密丝杆(5)置于精密导轨(4)上、由步进电机(2)驱动运行;测量架(3)两端设有可转动的支撑脚(6);主机箱中包括微处理器(11)、激光控制器(12)、数据采集模块(9)、数据处理模块(10)、走位控制器(13)、激光电源(14)、显示屏(7);微处理器(11)向激光控制器(12)发送信号,激光控制器(12)向激光扫描头(1)发送信号;激光扫描头(1)依次向数据采集模块(9)、数据处理模块(10)、微处理器(11)回传信号;微处理器(11)通过走位控制器(13)控制步进电机(2);微处理器(11)向显示屏(7)发送信号;激光电源(14)向激光控制器(12)供电。
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