[发明专利]发光二极管晶粒测试装置及其测试方法无效
| 申请号： | 201210147116.9 | 申请日： | 2012-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN103424677A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 曾国峰 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种发光二极管晶粒测试装置及其测试方法，用于测试一个发光二极管晶粒，该发光二极管晶粒测试方法包括以下步骤：承载该发光二极管晶粒；设定输出电源功率值；根据该输出电源功率值向该发光二极管晶粒提供输入电源以使发光二极管晶粒发光；测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；根据该输出电源功率值、测量到的该发光二极管晶粒的发出的光的波长判断该发光二极管晶粒的光电特性是否满足该预定的光电特性，从而判断该发光二极管晶粒是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 晶粒 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管晶粒测试装置，用于测试一个发光二极管晶粒是否满足预定的光电特性，该发光二极管晶粒用于在满足该预定的光电特性后被封装成发光二极管，该发光二极管晶粒测试装置包括：一个输出电源用于输出电源至该发光二极管晶粒，以使该发光二极管晶粒发光；一个光谱分析仪用于测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；及一个处理器，其包括一个控制单元，用于控制该输出电源依据设定的电功率值向该发光二极管晶粒输入电源并控制该光谱分析仪测量该发光二极管晶粒发出的光的波长；一个存储单元，该存储单元内存储有该发光二极管晶粒对应不同的输入电功率所应发出的光的波长的标准范围值；一个用户接口用于接收用户输入以确定的该输出电源的电源输出功率及该光谱分析仪测量到的该光电转换芯片发出的光的波长；及一个分析单元，用于分析该发光二极管晶粒在该输出电源输出的一电功率时，该发光二极管晶粒发出的光的波长是否落入在该电功率下该发光二极管晶粒所应发出的光的波长的标准范围值内，以供判断该发光二极管晶粒的光电特性是否满足预定的光电特性。
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