[发明专利]晶闸管元件及其制造方法有效
申请号: | 201210153855.9 | 申请日: | 2012-05-17 |
公开(公告)号: | CN103426921A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
发明(设计)人: | 张潘德;刘文忠 | 申请(专利权)人: | 敦南科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/06;H01L21/332 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 赵根喜;冯志云 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶闸管元件,包括一基底区、一对第一掺杂区、至少一第二掺杂区、至少一第三掺杂区以及一对金属层。这对第一掺杂区分别形成于基底区的两侧,并接触基底区。第二掺杂区形成在其中一个第一掺杂区与基底区之间,并接触基底区与第一掺杂区。第三掺杂区形成于其中一个第一掺杂区中,并接触第一掺杂区。第一掺杂区的掺杂类型不同于第二掺杂区、第三掺杂区以及基底区三者的掺杂类型。这对金属层分别接触这些第一掺杂区,而这些第一掺杂区与第三掺杂区皆位在这些金属层之间。本发明的晶闸管元件具有偏低的击穿电压。 | ||
搜索关键词: | 晶闸管 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种晶闸管元件,其特征在于该晶闸管元件包括:基底区,具有第一侧以及相对该第一侧的第二侧;一对第一掺杂区,分别形成于该第一侧与该第二侧,并接触该基底区;至少一第二掺杂区,形成在其中一个第一掺杂区与该基底区之间,并接触该基底区与该第一掺杂区;至少一第三掺杂区,形成于其中一个第一掺杂区中,并接触该第一掺杂区,该第三掺杂区未接触该基底区;其中所述第一掺杂区的掺杂类型不同于该第二掺杂区、该第三掺杂区以及该基底区三者的掺杂类型;以及一对金属层,分别接触所述第一掺杂区,而所述第一掺杂区与该第三掺杂区皆位在所述一对金属层之间,其中一层金属层还接触该第三掺杂区。
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