[发明专利]特征量估计装置及其方法以及分光图像处理装置及其方法有效
| 申请号： | 201210156533.X | 申请日： | 2012-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN102788751A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 金井政史;荒井佳文 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 刘薇;陈海红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及特征量估计装置及其方法以及分光图像处理装置及其方法。该特征量估计装置估计与被检测体的特定成分有关的特征量，并具备：分光估计参数保存部、校准处理参数保存部、多频段图像取得部、使用分光估计参数以根据多频段图像计算分光光谱的分光光谱计算部和使用校准处理参数以根据分光光谱计算特征量的校准处理部。 | ||
| 搜索关键词： | 特征 估计 装置 及其 方法 以及 分光 图像 处理 | ||
【主权项】：
一种特征量估计装置，其估计与被检测体的特定成分有关的特征量，具备：分光估计参数保存部，其保存在将波段不同的多个波段图像变换成分光光谱时使用的分光估计参数；校准处理参数保存部，其保存在将上述分光光谱变换成上述特征量时使用的校准处理参数；多波段图像取得部，其取得在至少包含与上述特定成分相应的预定波段的多个波段中拍摄上述被检测体而得到的多波段图像；分光光谱计算部，其使用在上述分光估计参数保存部中保存的分光估计参数，根据上述多波段图像计算分光光谱；以及校准处理部，其使用在上述校准处理参数保存部中保存的校准处理参数，根据由上述分光光谱计算部求出的分光光谱计算上述特征量。
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